博曼x熒光半導體鍍層膜厚測試儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設備。
在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
快速、精確的分析：
大面積正比計數(shù)探測器和博曼儀器50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強度大、斑點小，樣品激發(fā)佳）相結合，提供最佳靈敏度?
簡單的元素區(qū)分：
通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜 ?
性能優(yōu)化，可分析的元素范圍大：
博曼x熒光半導體鍍層膜厚測試儀預置800多種容易選擇的應用參數(shù)/方法?
卓越的長期穩(wěn)定性：
自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩(wěn)定的測試結果?
例行進行簡單快 速的波譜校 準，可自 動檢查儀器性能（例如靈敏性）并進行必要的修正?
堅固耐用的設計
可在實驗室或生產(chǎn)線上操作?
堅固的工業(yè)設計?
博曼x熒光半導體鍍層膜厚測試儀結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
如果您有什么問題或要求，請您隨時聯(lián)系我們。您的任何回復我們都會高度重視。金東霖祝您工作愉快！聯(lián)系人：舒翠 ?136 0256 8074 ?0755-29371655 ?QQ:2735820760
點擊圖片查看原圖
