即使薄玻璃電路板也能精確繪圖 由于采用獨(dú)特的大透鏡，即便是薄玻璃電路板也能從側(cè)面直接檢測(cè)。另外，由于檢測(cè)范圍寬(25±12.5mm)，即使玻璃電路板在不規(guī)則位置上也可進(jìn)行穩(wěn)定繪圖。 可用于各種玻璃電路板 各種玻璃邊形狀如R表面和C表面都可獲得大光量，因而盒內(nèi)玻璃電路板的精確繪圖成為可能。除了清晰的玻璃外，有黑色或黃色涂層的玻璃也可檢測(cè)。 即使的彎曲±8°也能穩(wěn)定檢測(cè) 隨著玻璃電路板的大型化，其彎曲量也因此變大，但至少有一種可應(yīng)用于左右彎曲±8°(FD-L45為±6°)的電路板。 寬范圍、高精度檢測(cè) 檢測(cè)距離為3～17mm(FD-L45為10～25mm)，且由于定位誤差在0.2mm以下，因此可進(jìn)行更高精度的檢測(cè)。 檢測(cè)距離0～7mm 以比以往更小的尺寸達(dá)到了同類中最長(zhǎng)的檢測(cè)距離，用于座式確認(rèn)十分理想，即使對(duì)彎曲的玻璃電路板也可提供穩(wěn)定的檢測(cè)性能。 備有短距離型FD-L44S尺寸極小，節(jié)省空間FD-WL48 以W7.2H7.5D2mm的極小尺寸收錄于限定反射光學(xué)系統(tǒng)中。此外，在無法確保安裝空間的場(chǎng)所、裝置中也可設(shè)置，從而大大擴(kuò)展了其用途。