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UV765CRT紫外可見分光光度計

點擊圖片查看原圖
品 牌: 濟南禾普 
型 號: UV765CRT 
規(guī) 格: 可以按客戶要求定做 
單 價: 面議 
起 訂: 1 臺 
供貨總量: 100 臺
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 山東 濟南市
有效期至: 長期有效
更新日期: 2020-05-19 11:23
瀏覽次數(shù): 11
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公司基本資料信息
 
 
 
【UV765CRT紫外可見分光光度計】詳細說明
?UV765CRT紫外可見分光光度計產(chǎn)品簡介:

該系列紫外可見分光光度計可以滿足日常分析到科學研究等廣泛的應用需求。儀器采用先進合理的光路系統(tǒng)、低噪聲的電路設(shè)計,具有出色的可靠性和穩(wěn)定性。

UV765CRTC紫外可見分光光度計主要特點:
●?比例雙光束,保證極好的穩(wěn)定性。
●?超低的雜散光,優(yōu)異的波長精確度。
●?高清晰度大屏幕LCD顯示,流暢的人機對話操作。
●?長壽命石英涂膜光學部件。
●?常規(guī)測量功能:光度測量、定量測定、光譜掃描、時間掃描。
●?顯示和儲存各種數(shù)據(jù)和圖譜,支持專用打印機。
●?自動校正功能,確保每次測量數(shù)據(jù)準確。
●?自動尋找燈源最佳位置,獨立燈室,燈源更換簡單方便。
●?大樣品室,自動8聯(lián)樣品架。
●?自診斷功能,隨時檢查儀器狀態(tài)和性能。
UV765CRT紫外可見分光光度計技術(shù)參數(shù)

波長范圍:

190nm~1100nm

波長最大允許誤差:

±0.5nm

波長重復性:

≤0.2nm

光譜帶寬:

2nm

雜散光:

≤0.05%(τ)(在220nm處,以NaI測定,在360nm處,以NaNO2測定)

透射比測量范圍:

0.0%(T)~200.0%?(T)

吸光度測量范圍:

-0.301(A)~3.00(A)

透射比最大允許誤差:

±0.3%(τ)

漂移:

≤0.001A/h

透射比重復性:

0.15%(T)

基線平直度:

±0.002A

噪聲:

100%噪聲≤0.15%(T)?0%噪聲≤0.10%(T)

掃描速度:

快、中、慢

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