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巴拓15J測量顯微鏡

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品 牌: 巴拓 
型 號: 15J 
規(guī) 格: 15J 
單 價: 面議 
起 訂:  
供貨總量: 10000 臺
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 上海
有效期至: 長期有效
更新日期: 2014-03-26 13:58
瀏覽次數(shù): 781
詢價
公司基本資料信息
 
 
 
【巴拓15J測量顯微鏡】詳細(xì)說明
用途:15J 系列測量顯微鏡是光學(xué)計量儀器之一,它的結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,適用范圍極廣,主要用途如下:直角座標(biāo)中測定長度,例如:測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。 轉(zhuǎn)動度盤測定角度,例如:對刻度盤,樣板、量規(guī),鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行角度測量。 用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等。技術(shù)參數(shù):
物 鏡目 鏡工作距離(mm)視場直徑
(mm)
放大倍數(shù)(X)焦距(mm)放大倍數(shù)(X)焦距(mm)
2.5X /0.0843.4010X25.0058.845.6
10X /0.2517.137.811.4
光學(xué)放大倍數(shù):25X 100X測量工作臺讀數(shù)裝置主要規(guī)格:x軸移動測量范圍: 50毫米y軸移動測量范圍: 13毫米測微器分度值: 0.01毫米測量臺轉(zhuǎn)動范圍: 不限測量臺刻度盤分度范圍: 0 - 360 測量臺刻度盤之分度值: 1 測量臺刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值: 6 照明方式:反射光(自然光)測量精度:儀器值誤差(5 L/15)微米儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。 注:測量地點(diǎn)溫度變化(20 3) C;L 被測件長度(毫米)儀器之主要尺寸: 測量臺與物鏡間之最大距離:80毫米測量工作臺直徑: 120毫米儀器外形尺寸:高325*長262*寬220毫米儀器重量級: 約10.6公斤顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉(zhuǎn),顯微鏡可由調(diào)焦手輪進(jìn)行上下調(diào)焦。注:15JA是在15J的基礎(chǔ)上增加了透射電光源照明系統(tǒng)。 儀器選配件:1.其它相關(guān)附件 2.二維測量軟件(BT-2000M) 3.動態(tài)檢測軟件(BT-2000V)

本公司經(jīng)營測量顯微鏡,質(zhì)量保證,歡迎咨詢洽談。

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