掃描白光干涉顯微儀產(chǎn)品特點(diǎn)及用途結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn)，可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應(yīng)用領(lǐng)域包含：● 晶體（Wafer）● 光盤/硬蝶（DVDDisk/HardDisk）● 平面電組件（MEMSComponents）● 平面液晶顯示器（LCD）● 高密度線路印刷電路板（HDIPCB）● IC封裝（ICPackage）以上其它材料分析與組件微表面研究詳細(xì)內(nèi)容請見萬濠網(wǎng)頁