HPAgilent4263B　LCR測(cè)試儀 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： l 基本精度為0.1%l 測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHzl 量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔l 具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能l 高速測(cè)量:25msl 高速接觸檢查l 大的電容測(cè)試量程l 變壓器參數(shù)測(cè)量(供選用) 技術(shù)參數(shù) 測(cè)量功能 測(cè)量參數(shù) |Z|,|Y|, ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR 選件001 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量 測(cè)量電路形式 串聯(lián)和并聯(lián) 數(shù)學(xué)功能 偏差和百分偏差 測(cè)試電纜長(zhǎng)度 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz) 測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù) 測(cè)試頻率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz 選件002 增加20kHz測(cè)試頻率 頻率精度 0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz), (10%+10mV) 輸出阻抗 100 10%,25 10%( 1 量程） 交流測(cè)試信號(hào)電平 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 精度 （10%+10mV) 內(nèi)部直流偏置 電平 1.5和2V；精度： （5%+2mV) 外部直流偏置 0~+2.5V 測(cè)量范圍 參數(shù) 測(cè)量范圍 |Z|,R,X 1m -100M |Y|,G,B 10nS-1000S C 1pF-1F L 10nH-100kH D 0.0001-9.9999 Q 0.1-9999.9 -180 ~+180 DCR 1m -100M N 0.9-200（待定） L,M 1 H-100H（待定） % -999.99%-+999.99% 測(cè)量精度： 0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) 測(cè)量時(shí)間 模式 時(shí)間（典型值） 短 25ms 中等 65ms 長(zhǎng) 500ms 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器： 電壓和電流 前端保護(hù)： 當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。最大電容器電壓為；在Vmax 250V時(shí)，Vmax= (8/C)(典型值）；在Vmax 1000V時(shí)，Vmax= (2/C)(典型值），C單位為F。 顯示數(shù)字： 3，4或5位（可選擇） 修正功能： 開(kāi)路/短路誤差為0： 消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差 負(fù)載： 利用一個(gè)已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量的精度 比較功能： 對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 接觸檢查功能： 可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms 其它功能 存儲(chǔ)/調(diào)用： 可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置 連續(xù)存儲(chǔ)功能： 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來(lái)（在23 5℃下≦72小時(shí)） GPIB接口 所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息 處理器接口 所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開(kāi)路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測(cè)量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā) 一般技術(shù)指標(biāo)： 電源要求 90-132V或198-264V，47-66Hz，45VAmax 工作溫度 0-45℃ 尺寸 320mm(寬）*100mm(高）*300mm(長(zhǎng)）（12.6英寸*3.94英寸*11.81英寸） 重量： 4.5kg(9.9磅）