兩探針電阻率測(cè)試儀型號(hào)：KDK-KDY-2產(chǎn)品名稱：兩探針電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品型號(hào)：KDK-KDY-2生產(chǎn)廠商：北京恒奧德儀器儀表有限公司產(chǎn)品編號(hào)：產(chǎn)品單價(jià)：所屬欄目：熱賣產(chǎn)品產(chǎn)品簡(jiǎn)介 KDK-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱兩探針儀）是按照我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法 兩探針法 設(shè)計(jì)。它適合于測(cè)量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠(如硅芯、檢磷、硼棒、區(qū)熔鍺錠等)的電阻率，測(cè)樣長(zhǎng)度與截面最大尺寸之比應(yīng)不小于3：1。由于兩探針法的測(cè)量電流是從長(zhǎng)棒兩端進(jìn)出，遠(yuǎn)離電壓測(cè)量探針，因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等），對(duì)測(cè)量的影響較小，測(cè)量結(jié)果為橫截面的平均電阻率，兩探針法的測(cè)量精度一般優(yōu)于四探針法。