簡(jiǎn)介：品名稱(chēng)：粉體阻抗測(cè)定系統(tǒng)MCP-PD51特色：﹢用於研究開(kāi)發(fā)、品質(zhì)管理第一線，執(zhí)行粉體之物性管理﹢與阻抗率計(jì)Loresta-GP,Hiresta-UP連接，以測(cè)定廣範(fàn)圍之粉體之低阻抗、高阻抗﹢樣品的交換、清掃簡(jiǎn)單、可採(cǎi)一觸式著離探頭﹢各種粉體的形狀，粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積﹢測(cè)定及數(shù)據(jù)、備有達(dá)執(zhí)行圖形化之軟體以供選購(gòu)測(cè)定對(duì)象：金屬粉、碳粉類(lèi)、陶磁粉 等導(dǎo)電性粉體　詳細(xì)描述：阻抗率自動(dòng)測(cè)定系統(tǒng)特色：測(cè)定演算、數(shù)據(jù)處理，3次元圖形輸出完全自動(dòng)化，可應(yīng)用至基板尺寸650 650mm之長(zhǎng)方形、圓形樣品， 邊緣之影響 被補(bǔ)正，依[MCC方法]測(cè)定例測(cè)定對(duì)象：ITO玻璃、薄膜，各種金屬薄膜、各種導(dǎo)電性薄膜、薄片型號(hào)：﹢低阻抗率型式：MCP-S620(650 650mm),MCP-S521(450 450mm)﹢高阻抗率型式：MCP-S600(400 400mm)