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新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

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規(guī) 格: 行業(yè)標準 
單 價: 面議 
起 訂:  
供貨總量: 99999
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 浙江 寧波市
有效期至: 長期有效
更新日期: 2010-09-26 08:59
瀏覽次數(shù): 3
詢價
公司基本資料信息
 
 
 
【新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀】詳細說明
創(chuàng)新點1.最新動態(tài)光背散射技術(shù),引入能譜概念,180 檢測異相多普勒頻率變化,穩(wěn)定性好,重現(xiàn)性高,實為傳統(tǒng)光子相關(guān)光譜方法的最佳替代品。2.專利膜電極設(shè)計,準確測量顆粒電泳速度3.先進的 Y型 光纖光路系統(tǒng),精確聚焦藍寶石測量窗口,有效消除雜散光對檢測器的負面影響。無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,測量同一體系的Zeta電位,避免樣品交叉污染與濃度變化。4.專利的異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù),較之傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜分析方法,獲得顆粒散射光信號的強度高出幾個數(shù)量級,提高分析結(jié)果的可靠性5.專利的可控參比方法(CRM,Controlled Reference Method),能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度 技術(shù)參數(shù)粒度范圍:0.8納米-6.5微米Zeta電位測量:+/-125mv電泳遷移:+/-0.4 s/volt/cm重復(fù)性:誤差小于1%(標準顆粒)測量原理:動態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論專利技術(shù):HDF,CRM,F(xiàn)FT, Y 型光纖光路設(shè)計, 非球形 顆粒校正選項,微電場設(shè)計技術(shù)檢測角度:180 濃度范圍:0.1ppm 40wt%分析時間:30-120秒光源:3mW780nm半導(dǎo)體光纖樣品體積:0.2-5ml操作軟件:兼容Windows98,2000,NT,XP,Vista等國際標準:ISO13321環(huán)境溫度:10 Cto35 C相對濕度:小于90% 主要特點﹡專利的異相多譜勒頻移(HeterodyneDopplerFrequencyShifts)技術(shù),比較傳統(tǒng)的多譜勒頻移分析方法,獲得顆粒散射信號的強度高出幾個數(shù)量級,提高分析結(jié)果的可靠性﹡專利的可控參比方法(CRM,ControlledReferenceMethod),能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,避免了多重散射現(xiàn)象,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性﹡先進的 Y型 光纖光路系統(tǒng),精確聚焦藍寶石測量窗口,有效消除雜散光對檢測器的負面影響﹡專利的快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)astFourierTransformAlgorithmMethod),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的光譜,縮短分析時間﹡首家引進 非球形 顆粒概念對米氏理論計算的校正因素,內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫,提高顆粒粒度分布測試的準確性﹡符合甚至部分超過ISO13321激光粒度分析國際標準-納米分析部分﹡符合甚至部分超過21CFRPART11安全要求及FDA標準 儀器介紹30多年來,Microtrac 公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒,早在1990年,納米顆粒分析儀器,NPA首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產(chǎn)生的能譜概念,利用 br 背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù) /br ,結(jié)合動態(tài)光散射理論和先進的數(shù)學(xué)處理模型,取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜(PCS,Photon Correlation Spectroscopy)方法,將分析范圍為延伸至0.003-6.5 m。隨著技術(shù)的發(fā)展,Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器,快速分析高濃度的納米顆粒,生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實,成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。 b 應(yīng)用領(lǐng)域: /b 有機聚和物和高分子研究,納米金屬和其他納米無機物,結(jié)晶分析,表面活性劑膠束大小,蛋白質(zhì),甾體,DNA,RNA,極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。
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