離子污染度測(cè)試我們通常也稱其為 清潔度測(cè)試 ，其是一種已經(jīng)存在超過40年的測(cè)試方法，這種測(cè)試方法對(duì)于保證電子生產(chǎn)領(lǐng)域工藝控制的重要性，一直以來都是毋庸置疑的。 離子污染度測(cè)試儀是用來測(cè)試線路板或者您的產(chǎn)品最終的離子總量。根據(jù)IPC/ANSI-J-STD001D，UKDEF-STD，或者其他國際標(biāo)準(zhǔn)，我們也可以稱其為清潔度。 我們需要采用離子污染/清潔度測(cè)試儀來對(duì)線路板或者焊接工藝對(duì)線路板上造成的殘留進(jìn)行測(cè)試，因?yàn)槠涞拇嬖跁?huì)最終影響產(chǎn)品的可靠性。 在一個(gè)潮濕的環(huán)境下，離子污染會(huì)造成許多問題，如由于結(jié)晶的生長引起的導(dǎo)體之間的短路。或者直接腐蝕導(dǎo)體或者是降低產(chǎn)品的表面阻抗，所以對(duì)于清潔度或者為了保證最終產(chǎn)品的可靠性而言，監(jiān)控離子污染的程度顯得尤為重要。我們通過將樣品放置于一定濃度的異丙醇溶劑中，在一定的時(shí)間和清洗的作用下，我們就可以獲得離子總量數(shù)據(jù)： g/cm2NaClequivalence。