DX系列X射線衍射儀設(shè)計精密，硬件、軟件功能齊全，能靈活地適用于物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的各種測試、分析和研究。根據(jù)實際任務(wù)的需要，可以安裝各種特殊功能的附件及相應(yīng)控制和計算軟件，組成具有特殊功能的衍射儀系統(tǒng)。　　●硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的完美結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要；　　●高精度的衍射角度測量系統(tǒng)，獲取更準(zhǔn)確的測量結(jié)果；　　●高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測量精度；　　●程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計，操作簡便、儀器外型更美觀。技術(shù)參數(shù)　　可對單晶、多晶和非晶樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析，如物相定性和定量分析（RIR定量、內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)法、外部標(biāo)準(zhǔn)法、標(biāo)準(zhǔn)添加法），衍射譜圖指標(biāo)化及點陣參數(shù)測定，晶粒尺寸及點陣畸變測定，衍射圖譜擬合修正晶體結(jié)構(gòu)（WPF），殘余應(yīng)力測定，織構(gòu)分析（ODF表示立體極圖），結(jié)晶度、薄膜測定。衍射數(shù)據(jù)處理軟件　　對衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行常規(guī)處理：自動尋峰、手動尋峰、積分強度、K 1、 2剝離、背景扣除、平滑、峰形放大、多重繪圖、3D繪圖、已知晶體理論結(jié)構(gòu)，模擬出XRD衍射譜圖等;　　擬合、多重峰分離　　通過Pseudo-Voigt函數(shù)或是利用Pearson-VII函數(shù)對重疊峰擬合分解，確定單一衍射峰的參數(shù)，同時計算結(jié)晶度、晶粒尺寸、二類應(yīng)力等?！　《ㄐ浴⒍糠治觯骸　《ㄐ?、定量分析確定樣品物相組成后，使用Rietveld方法，計算出各種物相含量的百分比（無標(biāo)標(biāo)定量分析）?！　ietveld晶體結(jié)構(gòu)精修（WPF）　　全譜擬合定性分析、精確定量分析峰形分析研究晶體雜質(zhì)、位錯、晶界、點陣畸變等微觀結(jié)構(gòu)?！　±L圖、打印輸出　　數(shù)據(jù)處理軟件與Windows相連接，對將要輸出的圖譜可以使用標(biāo)注、放大、縮小等功能進(jìn)行版面設(shè)計，也可以使用Windows操作進(jìn)行剪切、粘貼。集成測量附件(選件)　　廣角測角儀一般是針對粉末樣品、塊狀樣品定性和定量分析而設(shè)計的。但隨著材料研究的深入，越來越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線衍射分析，集成測量附件就是為了滿足這些需要而設(shè)計的。在廣角測角儀上安裝集成測量附件可以進(jìn)行織構(gòu)、應(yīng)力、薄膜、定量分析等測試，每一種測試功能都有相應(yīng)的計算軟件。　　應(yīng)用領(lǐng)域：　　●碾軋板（鋁板、鐵板、銅板等）織構(gòu)測量及評價（極圖、反極圖、ODF計算）　　●大分子化合物取向測量　　●陶瓷樣品取向測量　　●薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價　　●金屬材料、陶瓷材料的殘余應(yīng)力測量（切削、敲擊等加工產(chǎn)生　的應(yīng)力）　　●金屬材料上的氧化膜、氮化膜等殘余應(yīng)力測量，進(jìn)行耐磨性、　切削性評價　　●多層膜材料的殘余應(yīng)力測量　　●金屬、非金屬基體上的多層膜、氧化膜、氮化膜分析　　●金屬、非金屬表面的電鍍材料分析　　●有擇優(yōu)取向的粉末、大分子材料的定性、定量分析　　特點：　　●極圖測試裝置（有反射法、透射法、 擺動）　　●應(yīng)力測量附件（有側(cè)傾法、并傾法）　　●薄膜測量、Phi掃描（樣品表面旋轉(zhuǎn)）　　●最大可測量樣品尺寸： 35X8mm　　●樣品前后自動調(diào)整最小距為：5 m　　●附件有定位結(jié)構(gòu)與廣角測角儀安裝、柝卸十分方便　　●DX系統(tǒng)軟件自動控制各個方向動作，可以更好的進(jìn)行粉末樣品測試　　技術(shù)參數(shù)：　　 軸轉(zhuǎn)動范圍：－45 ～90 　最小轉(zhuǎn)動步距0.001 /步　　 軸轉(zhuǎn)動范圍：360 　　　　最小轉(zhuǎn)動步距0.005 /步　　 軸轉(zhuǎn)動范圍： 8mm　　　　　水平45 方向擺動　　Z軸轉(zhuǎn)動范圍：10mm　　　　　最小移動步距0.005mm/步　　集成測量附件配置有高分辯率平行光光學(xué)系統(tǒng)，克服了聚集光學(xué)系統(tǒng)的缺點。平行光光學(xué)系統(tǒng)可以解決測量角度誤差、衍射峰不對稱、分辯率低等問題。尤其適用于材料殘余應(yīng)力、有機材料、薄膜、鍍膜等樣品分析?？棙?gòu)使多晶材料呈現(xiàn)各向異性，利用織構(gòu)改善和提高材料的性能、充分發(fā)揮材料性能潛力是材料科學(xué)研究重要的工作之一。雖然檢測材料織構(gòu)的方法很多，但是最廣泛應(yīng)用的還是X射線衍射技術(shù)。集成測量附件應(yīng)用于退火鋁的織構(gòu)測試。分別測量出111、200、220三張極圖，使用計算軟件繪制的反極圖和立體極圖（ODF圖）　集成測量附件應(yīng)用于鋼的殘余應(yīng)力測試，Psi角膜式，-45 ～90 范圍內(nèi)取點對稱測量2 角峰位，計算正向、反向測試應(yīng)力值，取平均值為應(yīng)力測量結(jié)果。纖維樣品測量裝置(選件) 　　纖維樣品測量附件安裝在廣角測角儀上。安裝纖維樣品或?qū)⒗w維樣品安裝后拉伸，用透射法或是反射法測試晶體結(jié)構(gòu)或是晶體結(jié)構(gòu)的變化，適用于木材、纖維等樣品的纖維組織測量。樣品旋轉(zhuǎn)(薄膜測量)附件(選件) 　　使用聚焦光學(xué)系統(tǒng)一般無法測量薄膜樣品，但采用平行光光學(xué)系統(tǒng)和樣品旋轉(zhuǎn)附件、將 軸固定、低角度入射、使用平晶單色器反射、保持樣品內(nèi)旋轉(zhuǎn)的方法，除掉來自基體的強X射線，可以高效率地探測到薄膜衍射線。衍射儀通用附件（選件）單色器：提高衍射峰與背景比例及對微相分析能力DCX-6換樣器：編程控制，一次安裝多個樣品，順序進(jìn)行測試，保存測量結(jié)果，提高儀器的運行效率。陶瓷體X射線管功率：2kW焦點：1X10mm標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)、適用國內(nèi)外X射線儀制樣器：用于粉體衍射樣品制作Dwlc-2循環(huán)水冷卻裝置　　該裝置主要用于顯微鏡、電子探針、能譜儀、衍射儀、熒光光譜儀等實驗室設(shè)備所需要的恒溫水源。它運用壓縮機制冷原理，采用封閉內(nèi)循環(huán)水循環(huán)，自動控制制冷系統(tǒng)工作，對儀器需要冷卻部件進(jìn)行熱交換，使儀器在最佳溫度下穩(wěn)定工作。技術(shù)參數(shù)使用蒸餾水，對X射線管或需要冷卻的部件進(jìn)行冷卻；分體式結(jié)構(gòu)（冷凝器安裝在室外），減少室內(nèi)噪音；任意設(shè)定循環(huán)水工作溫度（0-50 C）；溫度控制精度：設(shè)定溫度 1 C；水流量：16L/min、24L/min；出水口壓力：2.5kg/平方厘米、3.5kg/平方厘米、4.0kg/平方厘米；儲水量：大于70L或按要求提供；工作電壓：220V或380V；工作方式：本機開、關(guān)或遙控方式選擇；有水流量檢測、制冷劑壓力檢測及各種保護(hù)。注：實驗室面積標(biāo)注的尺寸僅供參考　●　單相電源220V 30A　2組　　●　接地線電阻不得大于4