JF-2型X射線晶體分析儀　　晶體分析儀能夠提供穩(wěn)定的X射線光源,用來研究物質(zhì)內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu).　　該儀器的特點(diǎn)是利用可控硅和集成電路自動控制系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)流調(diào)壓,從而獲得一個強(qiáng)而穩(wěn)定的射線光源.該機(jī)射線發(fā)生器功率大,整機(jī)穩(wěn)定性高,操作簡單,分析速度快,可靠性強(qiáng),防護(hù)完善,可與各種射線照相機(jī)一起構(gòu)成X射線晶體分析儀,或用于其他用途的X射線光源.　　X射線晶體分析儀廣泛用于冶金,機(jī)械,電子,化工,地質(zhì),建材,環(huán)保,能源,食品等科研,工礦企業(yè)和大專院校.