SEA5100采用Si(Li)半導(dǎo)體檢測器，使之測量分辨率大大提高，彌補(bǔ)了用比例計數(shù)管檢測時有些元素難以區(qū)分的不足，配備有小型準(zhǔn)直器,不僅可以進(jìn)行元素分析，也可測量鍍層厚度,與薄膜FP法配合使用時,可以不使用標(biāo)準(zhǔn)樣品，就可以進(jìn)行元素分析及鍍層測量。標(biāo)準(zhǔn)配備有Windows2000中文操作界面，采用檢量線法和FP法，測量數(shù)據(jù)與Word和Excel鏈接，自動生成報告和數(shù)據(jù)處理，2個準(zhǔn)直器可自動切換，工作臺3維電動，可編程進(jìn)行自動測量利用微小的X射線束流來進(jìn)行微小的異物分析雖然從微小的異物得到的信號量不隨照射異物的X射線束流大小而改變，但是從底材得到信號隨著束流的減小而減小，相對來說，從異物得到的信號跟底材的比增強(qiáng)。于是，微小的X射線束流在進(jìn)行微小的異物和樣品時，發(fā)揮著重要的作用。方便簡單的多點分析和成像利用多彩的掃描方法，自動的測量樣品的表面，簡單明了的表示出2維或者3維的元素分布，膜厚組成分布等的成像。鮮明的樣品畫像和定性分析(對比表示)通過光亮的照明和倍率切換，可以得到擴(kuò)大90倍的畫像，可以清楚的觀察到微小的部分，通過鼠標(biāo)和操縱桿，可以自由自在的移動樣品，利用標(biāo)有準(zhǔn)直器尺寸的十字線，來不斷的確認(rèn)和調(diào)整需要分析部分的位置。通過電鍍部分和材質(zhì)的能諳對比，確認(rèn)曲線重合部分的元素的同時，正確的設(shè)定測量條件。自動完成分析報告分析測量結(jié)束后，點擊輸出報告的按鍵，便自動的啟動報告編輯軟件。自動的表示出測量條件，樣品圖像，能譜，X射線強(qiáng)度，分析數(shù)據(jù)等。以此為基礎(chǔ)進(jìn)行編輯，可以簡單的完成數(shù)據(jù)詳細(xì)、具有說服力的分析報告。自動完成分析報告如果以A來表示含有異物分的能譜、以B來表示正常部分的能譜、那么A-B表示的差就是能譜差異。中心線在邊界的正方向表示出來的曲線是異物的成分，在負(fù)方向表示出來的曲線是素材的成分。利用這個能譜的差異，可以簡單的同定出異物。產(chǎn)品規(guī)格可測元素：Na-U定性功能：KLM標(biāo)示、ROL設(shè)定檢測器：Si(Li)半導(dǎo)體檢測器元素分析：自動辨別測量準(zhǔn)直器：2個（自動設(shè)定）應(yīng)用功能：用戶自主設(shè)定濾波器：一次濾波器（自動設(shè)定）自動測量：三維電動控制樣品觀察：CCD攝像機(jī)數(shù)據(jù)處理：MS-EXCEL搭載測定軟件：薄膜FP法、檢量線法報告生成：MS-WORD搭載