用于生產(chǎn)和研發(fā)的非接觸式三維光學輪廓儀

• 業(yè)界最高垂直分辨率

• 極高的可靠性和最好的測量重復性

• 最高的表面測量和分析速度

• 最強的使用性，操作簡便，分析功能強大

30年技術革新，實現(xiàn)非接觸式表面測量技術高峰

ContourGT系列結合先進的64位多核操作和分析處理軟件，專利技術白光干涉儀（WLI）硬件和前所未有的操作簡易性，推出歷年來來最先進的3D光學表面輪廓儀系統(tǒng)。第十代光學表面輪廓儀擁有超大視野內(nèi)埃級至毫米級的垂直計量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界最高的測量重復性。ContourGT系列是當今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應用中，最廣泛使用和最直觀的3D表面計量平臺。

業(yè)界最高的垂直分辨率，最強大的測量性能

• 0.5倍至200倍的放大倍率，在極寬的測量范圍內(nèi)，對樣品表面形狀和紋理進行表征。

• 任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程提供了無以倫比的測量靈活性。

• 高分辨率攝像頭可選配件，提高了橫向分辨率和GR&R測量的重復性。

多核處理器下運行的Vision64? 軟件，大大提高三維表面測量和分析速度

• 新的軟件設計使數(shù)據(jù)處理速度提高幾十倍。

• 多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度提高十倍。

• 無以倫比的無縫拼接能力，可以把成千上萬個數(shù)據(jù)拼接成一張連續(xù)的完美圖像

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測量硬件的獨特設計增強生產(chǎn)環(huán)境中的可靠性和重復性

• 高亮度的雙LED照明專利技術提高測量質(zhì)量。

• 最佳化的硬件設計提高了儀器對震動的容忍度和GR&R測量的能力。

• 專利的自動校準能力確保了儀器與儀器之間的相關性，測量準確度和重復性。

高度直觀的用戶界面，擁有業(yè)界最強的操作簡便和分析功能強大

• 優(yōu)化的用戶界面大大簡化測量和數(shù)據(jù)分析過程，從而提高儀器和操作者效率

• 獨特的可視化操作工具為用戶提供易于學習和使用的數(shù)據(jù)分析選項

• 用戶可自行設置數(shù)據(jù)輸出的界面

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  三十年技術創(chuàng)新，迎來第十代全新產(chǎn)品
  我們的干涉儀是世界上第一個包含了著名的垂直掃描干涉技術（VSI模式），掃描頭傾斜調(diào)整，專利的自動校準和雙LED照明等革新技術。
  ContourGT系列既結合了這些已被證實的設計功能，又在硬件上進行了大量的改進，從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復性最好的光學輪廓儀性能。 Bruker的光學輪廓儀具有已被證實的，將近三十年的優(yōu)越性能運行跟蹤記錄，從研究型實驗室到生產(chǎn)型工廠的上萬臺安裝記錄。

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  ContourGT-X光學輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件，此兩種設計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果，從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結果。

  OMM結合了Bruker專利的雙LED照明光源技術，在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供卓越的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內(nèi)提供無以倫比的準確性和可重復性。馬達驅動的多放大倍率檢測器可包含最大三個視場目鏡，以最大化放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。

  ContourGT系列可選擇型號中，具有包含Bruker專利技術的內(nèi)置一級標準自校準功能的能力，使得閉環(huán)掃描的性能最大化。此模塊包含一個參考信號，在儀器啟動時對系統(tǒng)進行自校準，然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測量，以保證絕對的精確度和卓越的重復性。

  Bruker的傾斜調(diào)整支架設計可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測量的視野中，確保了操作的一致性和簡易性。
  *這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。

  在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。

  選配的馬達驅動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺設計確保了當您切換物鏡時，您的測試點始終處于聚焦和中心位置。

  在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。

  • 輔助操作燈泡*

  • 塔臺

  • 自動樣品臺

  • 傾斜調(diào)整支架*

  • 自校準功能*

  • 光學計量模塊(OMM)

  • 卓越的震動隔離性能*