用于各種封裝的的二、三極管、橋堆、MOSFET和可控硅等分立器件進(jìn)行高溫反偏高溫柵偏試驗(yàn)（HTRB/HTGB）、高溫漏電流測(cè)試（HTIR）和老化篩選 杭州漢瑞電子有限公司成立于1999年，專業(yè)從事半導(dǎo)體元器件老化測(cè)試座、老化測(cè)試板、老化測(cè)試設(shè)備的開發(fā)和生產(chǎn)。公司投入大量資金和人力先后開發(fā)了100多個(gè)品種的高溫老化測(cè)試座，一改過(guò)去老化測(cè)試座清一色進(jìn)口的局面，不僅為廣大客戶降低了成本，而且大大縮短了采購(gòu)周期。2002年老化測(cè)試板系列質(zhì)量全面升級(jí)，使用壽命延長(zhǎng)50%以上，高溫老化板整體品質(zhì)遙遙領(lǐng)先國(guó)內(nèi)同行，處于國(guó)際領(lǐng)先地位。2003年，公司通過(guò)ISO9001-2000認(rèn)證，同年產(chǎn)品開始進(jìn)入國(guó)際市場(chǎng)。在全球半導(dǎo)體制造商中，公司已經(jīng)擁有不少的客戶，并與他們一直友好合作。公司擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的專業(yè)人才和齊全的生產(chǎn)設(shè)備，隨時(shí)可為您提供高效優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。