用于各種封裝的的二、三極管、橋堆、MOSFET和可控硅等分立器件進行高溫反偏高溫柵偏試驗（HTRB/HTGB）、高溫漏電流測試（HTIR）和老化篩選 杭州漢瑞電子有限公司成立于1999年，專業(yè)從事半導體元器件老化測試座、老化測試板、老化測試設(shè)備的開發(fā)和生產(chǎn)。公司投入大量資金和人力先后開發(fā)了100多個品種的高溫老化測試座，一改過去老化測試座清一色進口的局面，不僅為廣大客戶降低了成本，而且大大縮短了采購周期。2002年老化測試板系列質(zhì)量全面升級，使用壽命延長50%以上，高溫老化板整體品質(zhì)遙遙領(lǐng)先國內(nèi)同行，處于國際領(lǐng)先地位。2003年，公司通過ISO9001-2000認證，同年產(chǎn)品開始進入國際市場。在全球半導體制造商中，公司已經(jīng)擁有不少的客戶，并與他們一直友好合作。公司擁有經(jīng)驗豐富的專業(yè)人才和齊全的生產(chǎn)設(shè)備，隨時可為您提供高效優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。